TD-LTE規(guī)模發(fā)展攔路虎：終端測試短板凸顯

“木桶定律”眾所周知，一個木桶最短的那塊木板決定了木桶的盛水量。自從工信部將2.6GHz的190MHz頻率全部規(guī)劃為TDD使用后，TD-LTE發(fā)展勢頭更加兇猛。但是，終端芯片和測試儀表的短板效應在這個發(fā)展盛況下更加凸顯。因此，盡快制定出一套適應TD-LTE終端發(fā)展的測試標準和環(huán)境成為產(chǎn)業(yè)鏈完善的一個重要環(huán)節(jié)。

多模多頻挑戰(zhàn)大 終端測試短板凸顯

近期在廣州舉行的高交會上，工信部副部長尚冰在TD-LTE發(fā)展論壇上表示TD-LTE產(chǎn)業(yè)發(fā)展已取得階段性成果，已經(jīng)到了進一步加快發(fā)展的關鍵時刻，相應需要認真推進擴大規(guī)模試驗，加快突破薄弱環(huán)節(jié)，大力加強國際合作。

從今年下半年TD-LTE進入擴大規(guī)模試驗階段到今年10月份工信部明確將2.6G頻段的190MHz頻譜劃歸TD-LTE再到TD-LTE首輪終端招標，16家廠商入圍……近期，工信部無線電管理局副局長闞潤田表示正在探索在1427MHz~1525MHz的L頻段規(guī)劃給TD-LTE系統(tǒng)的可能性。TD-LTE從標準確立、概念驗證、技術試驗、規(guī)模試驗再到頻譜的規(guī)劃均取得了階段性的進展。

但是，就像尚冰副部長所說，在TD-LTE發(fā)展的關鍵時刻，還有加快突破薄弱環(huán)節(jié)。這個薄弱環(huán)節(jié)就是TD-LTE的終端芯片，尤其是TD-LTE的終端測試儀表?！跋鄬Χ?，TD-LTE的終端芯片和測試儀表還是產(chǎn)業(yè)鏈相對薄弱的環(huán)節(jié)，TD-LTE系統(tǒng)設備和FDD成熟度差不多，但是在終端芯片測試、儀表方面和FDD相比還有一定的差距?！惫ば挪靠萍妓咎庨L董曉魯這樣說道。

據(jù)工信部電信管理局巡視員張新生透露，近期我國國內(nèi)企業(yè)的TD-LTE系統(tǒng)設備經(jīng)過測試機構的測試已經(jīng)獲得了入網(wǎng)許可。“這說明TD-LTE在系統(tǒng)設備的產(chǎn)品和測試方面能力都有了進一步的提高?！睆埿律硎?。“但是在終端測試方面還需要再加碼?！?/p>

在TD-LTE終端發(fā)展方面，中國移動一直堅持多模發(fā)展?！皬娜蚩矗煌\營商有著不同模式和頻段需求，測試儀表需要支持2G/3G/4G所有制式和頻段，這給整個LTE產(chǎn)業(yè)帶來巨大挑戰(zhàn)?！惫ば挪侩娦叛芯吭焊呒壒こ處熇顐鞣逭J為。TD-LTE終端具有多頻多模的特點，這就給儀表測試帶來了更高的要求。

“另外，從測試實施角度來看，單個終端完整的測試方案使整個測試周期長到了產(chǎn)業(yè)界無法容忍。比如單個LTE頻段可能需要100-200個小時，WCDMA頻段需要500個小時測試周期，所有頻段都要進行測試，測試周期太長了?！崩顐鞣逭J為。

測試標準亟待建立

“從研發(fā)到認證再到產(chǎn)品上市再到網(wǎng)絡上應用都需要搞好測試工作。我的體驗就是測試是為質量服務的，必須要把測試工作同質量管理緊密結合，通過提高測試質量來提高產(chǎn)品的質量?！标R潤田表示。

因此，對于TD-LTE發(fā)展的薄弱一環(huán)——終端測試，張新生建議建立相應的測試標準，同時建立起自身的測試環(huán)境。

“從整體來看，我們要把終端推向市場就必須制定出一套適應于其發(fā)展的測試標準，按照這個標準進行檢測。能把這一步走好，我覺得才能真正地推動TD-LTE、推動多模多頻終端的發(fā)展?！睆埿律硎尽?/p>

對此，工信部科技司處長董曉魯也持有相同的觀點。他認為，要進一步規(guī)范測試儀表本身的測試方法、流程以及測試儀表的指標要求。同時，他希望國內(nèi)外相關儀表開發(fā)企業(yè)能夠積極跟蹤參與TD-LTE國際標準的制定工作，及時了解技術發(fā)展的動向和產(chǎn)業(yè)需求，把握好測試技術和產(chǎn)品開發(fā)的進度。

據(jù)張新生透露，測試標準以及測試目前和測試環(huán)境目前相關部門正在緊鑼密鼓地做。

來源：CCTIME飛象網(wǎng) 作 者：崔玉賢

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